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1. Data Mining and Diagnosing IC Fails

   Autor*in: Huisman, Leendert M

   Erschienen: 2005

   Verlag:  Springer US, New York, NY ; Springer International Publishing AG, Cham

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   Resolving-System

   Frankfurt/Main: Hessisches BibliotheksInformationsSystem HeBIS

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   Hinweise zum Inhalt

   Inhaltsverzeichnis Ausführliche Beschreibung

   Quelle:	Verbundkataloge
   Sprache:	Englisch
   Medientyp:	Ebook
   Format:	Online
   ISBN:	9780387263519; 0387263519; 1441937676; 0387505547; 0387249931
   Weitere Identifier:	doi: 10.1007/b137446
   RVK Klassifikation:	ES 900 ; SS 1800 ; SS 4680 ; ST 510
   Auflage/Ausgabe:	1st ed. 2005
   Schriftenreihe:	Frontiers in Electronic Testing ; 31
   Schlagworte:	Computerlinguistik
   Umfang:	1 Online-Ressource (XX, 250 Seiten), 46 illus.